即可通過互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，從目標(biāo)文件格式中提取源碼和符號(hào)，而且處理器可運(yùn)行各種控制操作。二、邏輯分析儀的分類目前市場(chǎng)上邏輯分析儀有兩類，一類是式邏輯分析儀，主要供應(yīng)商有安捷倫和泰克；另一類是價(jià)格相對(duì)低廉的基于PC的虛擬邏輯分析儀（VI），主要供應(yīng)商為美國國家儀器公司（NationalInstruments，NI），主要產(chǎn)品為圖形化測(cè)試測(cè)量編程軟件LabVIEW。傳統(tǒng)上，在PC上運(yùn)行的LabVIEW軟件被稱為虛擬儀器，但隨著LabVIEWRT的推出，這些VI可以在多種設(shè)備上運(yùn)行，如便攜式儀器、工業(yè)PC或基于Web的儀器等。三、邏輯分析儀的主要技術(shù)指標(biāo)1、邏輯分析儀的通道數(shù)在需要邏輯分析儀的地方，要對(duì)一個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行地分析，就應(yīng)當(dāng)把所有應(yīng)當(dāng)觀測(cè)的信號(hào)全部引入邏輯分析儀當(dāng)中，這樣邏輯分析儀的通道數(shù)至少應(yīng)當(dāng)是：被測(cè)系統(tǒng)的字長(zhǎng)（數(shù)據(jù)總線數(shù)）＋被測(cè)系統(tǒng)的控制總線數(shù)＋時(shí)鐘線數(shù)。這樣對(duì)于一個(gè)8位機(jī)系統(tǒng)，就至少需要34個(gè)通道?，F(xiàn)在幾個(gè)廠家的主流產(chǎn)品的通道數(shù)也高達(dá)340通道，例Tektronix等，市面上主流的產(chǎn)品是34通道的邏輯分析儀，用它來分析常見的8位系統(tǒng)，像北京海洋新推出的OLA系列邏輯分析儀就是34通道的。2、定時(shí)采樣速率在定時(shí)采樣分析時(shí)，要有足夠的定時(shí)分辨率。協(xié)議分析儀就找歐奧電子。長(zhǎng)沙SD分析儀費(fèi)用

歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號(hào)，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。通過在整個(gè)信號(hào)活動(dòng)信封內(nèi)執(zhí)行全時(shí)掃描，眼定位可以顯示在時(shí)間和電壓的小窗口中檢測(cè)到的轉(zhuǎn)變。這些掃描稱為眼圖掃描（eyescan）。像示波器一樣，眼圖掃描用于顯示測(cè)量數(shù)據(jù)。每個(gè)窗口中的轉(zhuǎn)變數(shù)量都會(huì)突出顯示。這可以使概覽眼型圖案，并確定是否需要使用示波器來進(jìn)一步詳細(xì)地查看信號(hào)。圖19眼圖掃描可以運(yùn)行導(dǎo)致自動(dòng)設(shè)置閾電壓和采樣位置的eyescan，或運(yùn)行只導(dǎo)致自動(dòng)設(shè)置采樣位置的eyescan。眼定位測(cè)量收集數(shù)據(jù)所基于的通道數(shù)量會(huì)影響測(cè)量時(shí)間。當(dāng)一個(gè)模塊中存在多個(gè)邏輯分析儀卡時(shí)將出現(xiàn)異常；在這種情況下，測(cè)量將同時(shí)并行運(yùn)行。支持差分信號(hào)的邏輯分析儀中的眼圖掃描EyeScan：支持差分信號(hào)的邏輯分析儀（如16962A邏輯分析儀模塊）針對(duì)輸入使用真值差分接收器：可編程參考電壓將計(jì)入負(fù)輸入。這是分析儀采用單端探頭時(shí)的閾電壓。對(duì)于差分探測(cè)的相關(guān)操作，通常將參考電壓編寫為0V：隨后將接收器的輸出與0V進(jìn)行比較，從差分輸入信號(hào)產(chǎn)生內(nèi)部邏輯信號(hào)。請(qǐng)注意。汕頭I3C分析儀那家好DigRF v4協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！

才能符合此表達(dá)式。換句話說，在ADDR等于1000的同時(shí)DATA等于2000。因此，如果要在同時(shí)發(fā)生兩個(gè)事件時(shí)觸發(fā)，則應(yīng)使用布爾邏輯表達(dá)式。常見錯(cuò)誤是應(yīng)使用布爾邏輯表達(dá)式時(shí)嘗試使用兩個(gè)序列步驟，或者應(yīng)使用兩個(gè)序列步驟時(shí)嘗試使用布爾邏輯表達(dá)式。當(dāng)多個(gè)事件同時(shí)發(fā)生時(shí)使用布爾邏輯表達(dá)式，而在一個(gè)事件接著一個(gè)事件發(fā)生時(shí)使用多個(gè)序列步驟。分支：分支類似于C編程語言中的Switch語句和Basic中的SelectCase語句。分支可提供測(cè)試多個(gè)sADDR”。多數(shù)邏輯分析儀還支持“notinrange”功能。范圍是一種方便的快捷方式，因此您無需指定“ADDR>=1000andADDR<=>標(biāo)志：標(biāo)志是用于從一個(gè)模塊向另一個(gè)模塊發(fā)送信號(hào)的布爾變量。當(dāng)某種情況在某一模塊中發(fā)生而稍后被另一模塊測(cè)試時(shí)可以設(shè)置標(biāo)志。在下面的示例中，標(biāo)志1用于跟蹤在模塊1的觸發(fā)序列中發(fā)生的情況，如，如果想在ADDR=1000第5次出現(xiàn)時(shí)觸發(fā)，可以將觸發(fā)設(shè)置為：IfADDR=1000occurs5timesthenTrigger全局計(jì)數(shù)器類似于整數(shù)變量。全局計(jì)數(shù)器比發(fā)生計(jì)數(shù)器更靈活，因?yàn)樗鼈兛捎糜跒閺?fù)雜事件（例如一個(gè)時(shí)鐘沿后跟另一時(shí)鐘沿的事件）計(jì)數(shù)?？梢栽黾?、測(cè)試和重新設(shè)置全局計(jì)數(shù)器。默認(rèn)情況下，全局計(jì)數(shù)器以零開頭并且不需要重新設(shè)置。

定時(shí)分析與狀態(tài)分析的主要區(qū)別是：定時(shí)分析由內(nèi)部時(shí)鐘控制采樣，采樣與被測(cè)系統(tǒng)是異步的；狀態(tài)分析由被測(cè)系統(tǒng)時(shí)鐘控制采樣，采樣與被測(cè)系統(tǒng)是同步的。用定時(shí)分析查看事件“什么時(shí)候”發(fā)生，用狀態(tài)分析檢查發(fā)生了“什么”事件。定時(shí)分析通常用波形顯示數(shù)據(jù)，狀態(tài)分析通常用列表顯示數(shù)據(jù)。六、小結(jié)邏輯分析儀主要用來測(cè)試以微處理器為的數(shù)字系統(tǒng)，在硬件電路、嵌入式系統(tǒng)和監(jiān)控軟件的研制和調(diào)試過程中，都是一個(gè)必備的工具。邏輯分析儀具有豐富的觸發(fā)條件，不管被測(cè)系統(tǒng)多么復(fù)雜，邏輯分析儀都能準(zhǔn)確地找到那些隱蔽的、偶然的特殊時(shí)刻，然后把觸發(fā)條件發(fā)生前后，各信號(hào)的時(shí)序圖和數(shù)據(jù)流顯示出來。問題也就看清楚了，不需要再絞盡腦汁的推理和猜測(cè)了。QSPI協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！

作為工程師手頭常備的開發(fā)工具，目前有許多入門級(jí)的邏輯分析儀設(shè)計(jì)，整體功能雖然不能和專業(yè)儀器相比，但是用較低的成本來實(shí)現(xiàn)特定的功能，也是非常成功的設(shè)計(jì)。本文以下討論的邏輯分析儀，主要是指這類入門級(jí)設(shè)計(jì)?；陔娔X并口的邏輯分析儀曾是主流，但是近年來電腦系統(tǒng)逐步不再配置并口，這類設(shè)計(jì)已經(jīng)成為明日黃花，還具有原理學(xué)習(xí)的價(jià)值。另一類的邏輯分析儀，是以低速單片機(jī)為基礎(chǔ)的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機(jī)設(shè)計(jì)了自己的作品。但這類單片機(jī)邏輯分析儀的共同弱點(diǎn)就是采樣速度太慢，通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎(chǔ)的入門級(jí)邏輯分析儀現(xiàn)在為流行。比如Saleaelogic，還有類似的USBee等。這類產(chǎn)品主要采用一個(gè)USBIO芯片，例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC，所有的信號(hào)觸發(fā)和處理工作都是電腦上的軟件完成的，硬件部分就只是一個(gè)數(shù)據(jù)記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數(shù)量”地采樣，因?yàn)樗械臄?shù)據(jù)都是存儲(chǔ)在電腦里的。目前一般多是8個(gè)通道，更多的通道數(shù)量會(huì)成比例地降低高采樣速度。這類產(chǎn)品構(gòu)造簡(jiǎn)單，方便易用，價(jià)格便宜，是調(diào)試單片機(jī)開發(fā)工作的好工具。它的缺點(diǎn)主要是采樣速度只有24MHz、8個(gè)通道。I2C/SPI邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！南通協(xié)議分析儀那家好

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還要對(duì)信號(hào)進(jìn)行放，因?yàn)閭鬟f過來的信號(hào)幅度比較小。圖23探頭的信號(hào)完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類型：直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載：探頭看起來象一個(gè)對(duì)地的直流負(fù)載，一般是20K歐姆。如果被測(cè)總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個(gè)負(fù)載可能會(huì)導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定，這個(gè)電阻阻值越，直流負(fù)載越小，阻值越小，直流負(fù)載越。交流負(fù)載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會(huì)減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號(hào)反射。我們需要在被測(cè)電路接收端和探頭尖處考慮信號(hào)完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個(gè)方面：探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號(hào)反射的原因是4個(gè)方面：探頭電容和電感；探頭在被測(cè)總線上的探測(cè)位置；總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)；探頭和目標(biāo)間連線的長(zhǎng)度。對(duì)于交流負(fù)載，我們需要考慮：探測(cè)點(diǎn)在傳輸線的位置，總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長(zhǎng)度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡(jiǎn)單的RC模型簡(jiǎn)單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測(cè)（StubProbing),阻尼電阻探測(cè)。長(zhǎng)沙SD分析儀費(fèi)用