振弦式應(yīng)變測(cè)量傳感器的研究起源于20世紀(jì)30年代，其工作原理如下：鋼弦在一定的張力作用下具有固定的自振頻率，當(dāng)張力發(fā)生變化時(shí)其自振頻率也會(huì)隨之發(fā)生改變。當(dāng)結(jié)構(gòu)產(chǎn)生應(yīng)變時(shí)，安裝在其上的振弦式傳感器內(nèi)的鋼弦張力發(fā)生變化，導(dǎo)致其自振頻率發(fā)生變化。通過(guò)測(cè)試鋼弦振動(dòng)頻率的變化值，能夠計(jì)算得出測(cè)點(diǎn)的應(yīng)力變化值。振弦式應(yīng)變測(cè)量傳感器的特點(diǎn)是具有較強(qiáng)的抗干擾能力，在進(jìn)行遠(yuǎn)距離輸送時(shí)信號(hào)失真非常小，測(cè)量值不受導(dǎo)線(xiàn)電阻變化以及溫度變化的影響，傳感器結(jié)構(gòu)相對(duì)簡(jiǎn)單、制作與安裝的過(guò)程比較方便。DIC方法具有全場(chǎng)測(cè)量、高靈敏度、高精度等優(yōu)點(diǎn)，特別適用于復(fù)雜結(jié)構(gòu)和生物力學(xué)測(cè)試等領(lǐng)域。北京高速光學(xué)非接觸應(yīng)變系統(tǒng)

   動(dòng)態(tài)基準(zhǔn)實(shí)時(shí)測(cè)量軟件用來(lái)獲取各測(cè)站點(diǎn)實(shí)時(shí)坐標(biāo)數(shù)據(jù)，其實(shí)質(zhì)是控制網(wǎng)的全自動(dòng)測(cè)量。當(dāng)全站儀測(cè)站點(diǎn)位于變形區(qū)域，為及時(shí)得到測(cè)站點(diǎn)的位置信息，將測(cè)站點(diǎn)納入控制網(wǎng)，控制網(wǎng)的已知點(diǎn)位于變形區(qū)域外，即為監(jiān)測(cè)控制網(wǎng)中的基準(zhǔn)點(diǎn)。變形點(diǎn)監(jiān)測(cè)軟件包括各分控機(jī)上的監(jiān)測(cè)軟件和主控機(jī)上的數(shù)據(jù)庫(kù)管理軟件兩部分。分控機(jī)上的監(jiān)測(cè)軟件用來(lái)控制測(cè)量機(jī)器人按.要求的觀測(cè)時(shí)間、測(cè)量限差、觀測(cè)的點(diǎn)組進(jìn)行測(cè)量，并將測(cè)量的結(jié)果寫(xiě)入主控機(jī)上的管理數(shù)據(jù)庫(kù)中。湖北VIC-Gauge 3D視頻引伸計(jì)測(cè)量系統(tǒng)光纖布拉格光柵傳感器是光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量的中心，通過(guò)測(cè)量光纖中的光頻移確定應(yīng)變大小。

光學(xué)是物理學(xué)的重要分支學(xué)科，也是與光學(xué)工程技術(shù)相關(guān)的學(xué)科。狹義來(lái)說(shuō)，光學(xué)是關(guān)于光和視見(jiàn)的科學(xué)，而現(xiàn)在常說(shuō)的光學(xué)是廣義的，是研究從微波、紅外線(xiàn)、可見(jiàn)光、紫外線(xiàn)直到x射線(xiàn)和γ射線(xiàn)的寬廣波段范圍內(nèi)的電磁輻射的產(chǎn)生、傳播、接收和顯示，以及與物質(zhì)相互作用的科學(xué)，著重研究的范圍是從紅外到紫外波段。它是物理學(xué)的一個(gè)重要組成部分，現(xiàn)多個(gè)領(lǐng)域使用到光學(xué)應(yīng)變測(cè)量數(shù)據(jù)，例如進(jìn)行破壞性實(shí)驗(yàn)時(shí)，需要使用到非接觸式應(yīng)變測(cè)量光學(xué)儀器進(jìn)行高速的拍攝測(cè)量，但現(xiàn)有儀器上的檢測(cè)頭不便于穩(wěn)定調(diào)節(jié)角度，不便于多角度的進(jìn)行高速拍攝，影響到測(cè)量效果，且補(bǔ)光儀器不便調(diào)節(jié)前后位置。

    應(yīng)變式稱(chēng)重傳感器，是一款將機(jī)械力巧妙轉(zhuǎn)化為電信號(hào)的設(shè)備，準(zhǔn)確測(cè)量重量與壓力。只需將螺栓固定在結(jié)構(gòu)梁或工業(yè)機(jī)器部件，它便能敏銳感知因施加的力而產(chǎn)生的零件壓力。作為工業(yè)稱(chēng)重與力測(cè)量的中心工具，應(yīng)變式稱(chēng)重傳感器展現(xiàn)了厲害的高精度與穩(wěn)定性。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，其靈敏度和響應(yīng)能力得以提升，使得這款傳感器在眾多工業(yè)稱(chēng)重與測(cè)試應(yīng)用中備受青睞。在實(shí)際操作中，將儀表直接置于機(jī)械部件上，不只簡(jiǎn)便還經(jīng)濟(jì)高效。此外，傳感器亦可輕松安裝于機(jī)械或自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備上，實(shí)現(xiàn)重量與力的準(zhǔn)確測(cè)量。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)嶄新登場(chǎng)，運(yùn)用光學(xué)傳感器測(cè)量物體應(yīng)變。相較于傳統(tǒng)接觸式應(yīng)變測(cè)量，其獨(dú)特優(yōu)勢(shì)顯而易見(jiàn)。較明顯的是，它無(wú)需與被測(cè)物體接觸，從而避免了由接觸引發(fā)的測(cè)量誤差。光學(xué)傳感器具備高靈敏度與快速響應(yīng)特性，能夠?qū)崟r(shí)捕捉物體的應(yīng)變變化。更值得一提的是，光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量還能應(yīng)對(duì)復(fù)雜環(huán)境的挑戰(zhàn)，如在高溫、高壓或強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。 光學(xué)應(yīng)變測(cè)量快速實(shí)時(shí)，適用于動(dòng)態(tài)應(yīng)變分析和實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

   對(duì)于復(fù)合材料的拉伸試驗(yàn)，可以使用試樣一側(cè)的單應(yīng)變測(cè)量來(lái)測(cè)量軸向應(yīng)變。然而，通過(guò)在試樣的相對(duì)兩側(cè)進(jìn)行測(cè)量并計(jì)算它們的平均值，可以得到更一致和準(zhǔn)確的結(jié)果。使用平均應(yīng)變測(cè)量對(duì)于壓縮測(cè)試至關(guān)重要，因?yàn)閮纱螠y(cè)量之間的差異用于檢查試樣是否過(guò)度彎曲。通常在拉伸和壓縮測(cè)試中確定泊松比需要額外測(cè)量橫向應(yīng)變。剪切試驗(yàn)時(shí)需要確定剪切應(yīng)變，剪切應(yīng)變可以通過(guò)測(cè)量軸向和橫向應(yīng)變來(lái)計(jì)算。在V型缺口剪切試驗(yàn)中，應(yīng)變分布不均勻且集中在試樣的缺口之間，為了更加準(zhǔn)確地測(cè)量這些局部應(yīng)變需要使用應(yīng)變儀。三維應(yīng)變測(cè)量技術(shù)常用的光學(xué)方法有光柵片法、激光干涉儀法和數(shù)字圖像相關(guān)法（DIC）等。重慶VIC-2D非接觸應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)

光學(xué)應(yīng)變測(cè)量利用光的相位或強(qiáng)度變化，高精度、高靈敏度地捕捉微小應(yīng)變變化。北京高速光學(xué)非接觸應(yīng)變系統(tǒng)

    芯片研發(fā)制造過(guò)程鏈條漫長(zhǎng)，很多重要工藝環(huán)節(jié)需要進(jìn)行精密檢測(cè)以確保良率，降低生產(chǎn)成本。提高制造控制工藝，并通過(guò)不斷研發(fā)迭代和測(cè)試，才能制造性能更優(yōu)異的芯片，走向市場(chǎng)并逐漸應(yīng)用到生活和工作的方方面面。由于芯片尺寸小，在溫度循環(huán)下的應(yīng)力，傳統(tǒng)測(cè)試方法難以獲??；高精度三維顯微應(yīng)變測(cè)量技術(shù)的發(fā)展，打破了原先在微觀尺寸測(cè)量領(lǐng)域的限制，特別是在半導(dǎo)體材料、芯片結(jié)構(gòu)變化細(xì)微的測(cè)量條件下，三維應(yīng)變測(cè)量技術(shù)分析尤為重要。 北京高速光學(xué)非接觸應(yīng)變系統(tǒng)