測量表面溫度一般采用非接觸紅外高溫計，必須注意在測量時需要調(diào)整紅外熱像儀所使用的發(fā)射率ε，發(fā)射率是材料及其表面狀況的特性，采用不正確的發(fā)射率會產(chǎn)生明顯的測量誤差。有兩種方法可以在靜態(tài)表面上校準(zhǔn)發(fā)射率，***個方法是使用接觸式高溫計測量溫度，然后將紅外高溫計指向同一點并調(diào)整發(fā)射率，直到溫度讀數(shù)與接觸式溫度計的讀數(shù)相同；第二個方法是在被測表面粘上黑膠布，或者涂上黑漆，然后用測得的溫度校準(zhǔn)紅外高溫計。常用特定溫度下水泥窯系統(tǒng)表面發(fā)射率見表1。工業(yè)中紅外熱像技術(shù)的另一用途是精確檢測運(yùn)行中機(jī)器，使機(jī)器保持持安全運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)。原裝進(jìn)口紅外熱像儀

QDIP可視為QWIP紅外熱像儀的衍生品,將QWIP中的量子阱替代為量子點,便產(chǎn)生了QDIP?對于QDIP而言,由于對電子波函數(shù)進(jìn)行了三維量子阱約束,因而其暗電流比QWIP低,工作溫度比QWIP高?但QDIP對量子點異質(zhì)結(jié)材料的質(zhì)量要求很高,制作難度大?在QDIP里,除使用標(biāo)準(zhǔn)的量子點異質(zhì)結(jié)構(gòu)外,還常用一種量子阱中量子點(dot-in-a-well, DWELL)異質(zhì)結(jié)構(gòu)?QDIPFPA探測器也是第三代IR成像系統(tǒng)的成員之一?一般而言,PC探測器的響應(yīng)速度比PV慢,但QWIP PC探測器的響應(yīng)速度與其它PV探測器相當(dāng),所以大規(guī)模QWIP FPA探測器也被研制了出來?與HgCdTe—樣,QWIP FPA探測器也是第三代IR成像系統(tǒng)的重要成員,這類探測器在民用與天文等領(lǐng)域都有著大量的使用案例?上海市紅外熱像儀維修熱成像儀檢測的是熱量，所以常常可以發(fā)現(xiàn)隱藏在茂密叢林中或被大霧遮蔽的目標(biāo)人物。

紅外熱像儀與普通相機(jī)有以下幾個主要區(qū)別：工作原理：普通相機(jī)通過捕捉可見光來形成圖像，而紅外熱像儀則是通過檢測物體發(fā)出的紅外輻射來形成圖像。紅外輻射是物體在熱量分布上的表現(xiàn)，與物體的溫度相關(guān)。感應(yīng)器：普通相機(jī)使用光敏感器（如CCD或CMOS）來捕捉可見光信號，而紅外熱像儀使用紅外感應(yīng)器（如微波探測器或熱電偶）來捕捉紅外輻射信號。圖像顯示：普通相機(jī)顯示的是可見光圖像，而紅外熱像儀顯示的是熱圖像，即物體的熱量分布圖。熱圖像通常以不同的顏色或灰度表示不同溫度區(qū)域。應(yīng)用領(lǐng)域：普通相機(jī)主要用于捕捉可見光圖像，適用于大多數(shù)日常攝影和視頻拍攝需求。而紅外熱像儀主要用于檢測物體的熱量分布，適用于建筑、工業(yè)、醫(yī)療、安防等領(lǐng)域的熱成像應(yīng)用。價格和復(fù)雜性：由于紅外熱像儀的技術(shù)和應(yīng)用特性，其價格通常比普通相機(jī)高。此外，紅外熱像儀的操作和解讀熱圖像的技術(shù)要求也相對較高，需要專業(yè)培訓(xùn)和經(jīng)驗。

鉛鹽探測器一般指基于PbS和PbSe等IV-VI族半導(dǎo)體材料制作的PC探測器,它們中的PbS探測器早在二戰(zhàn)期間就已經(jīng)投入到***的實際應(yīng)用之中?直至現(xiàn)在,紅外熱像儀因其低廉的生產(chǎn)成本與室溫下優(yōu)良的靈敏度等優(yōu)勢,這類探測器仍占據(jù)著一定比例的商用市場,許多**制造商對此均有涉足,如美國CalSensors?NewEngland Photodetectors?Thorlabs?TJT,西班牙New Infrared Technologies以及日本濱松(Hamamatsu)等?然而,由于銀鹽材料的介電常數(shù)很高,這類探測器的響應(yīng)速度比一般的光子探測器都要慢,這一劣勢很大程度上限制了相應(yīng)的大規(guī)模FPA探測器的發(fā)展,截至2014年,鉛鹽FPA探測器像元達(dá)到了320x256中等規(guī)模?制冷型紅外熱像儀由于其精度高誤差小靈敏度高，使得其檢測結(jié)果更加可靠。

對于該類探測器,基底由Si變?yōu)镚e時,其探測波段可從IR延伸到THz,在這里姑且將Si基與Ge基兩類放在一起加以闡述?傳統(tǒng)的非本征探測器是基于被摻雜的Ge或Si作為吸收材料制作而成的結(jié)構(gòu)簡單的PC探測器,主要有Ge:X[X=Hg?Ga?鈹(Be)?鋅(Zn)]?Si:Y[Y=Ga?砷(As)?銦(In)]等類型?這類探測器的響應(yīng)范圍取決于雜質(zhì)元素在基底里的離化能量,一般可覆蓋LWIR?VLWIR乃至THz波段,但需要在低溫(<10K)下工作?由于響應(yīng)波段很寬,非本征探測器被應(yīng)用到了航天領(lǐng)域,然而困境也隨之出現(xiàn):在太空中核輻射對探測器響應(yīng)的影響較大,需要減薄探測器吸收層來降低影響,但這樣也會使量子效率降低紅外熱像儀的主要性能指標(biāo)分類。原裝進(jìn)口紅外熱像儀

紅外熱像儀已廣泛應(yīng)用于包括電力、科研、制造等領(lǐng)域內(nèi)的各行各業(yè)。原裝進(jìn)口紅外熱像儀

在同一個溫度，測溫的紅外波長越大，發(fā)射率就越小，反之，測量的波長越小，發(fā)射率就越大。(注意，這個規(guī)律只是針對金屬或鋼鐵來說的，不適合其它材料，其它材料有其它材料的發(fā)射率規(guī)律，比如玻璃則反之)。發(fā)射率表提供的往往是一個發(fā)射率范圍，你無法準(zhǔn)確確認(rèn)發(fā)射率的值，也就是發(fā)射率設(shè)置經(jīng)常會有誤差，而且有時誤差還特別大而且，**重要的一點就是：除了黑體以外，實際物體的發(fā)射率值往往在一個范圍里，而不是一個固定的值，比如上圖中的哈氏合金在1μm時，發(fā)射率值是；同樣，鐵、鋼材，也是如此，比如不銹鋼在1μm時發(fā)射率為，而在8-14μm時發(fā)射率是。換言之，在這個范圍里，提供的發(fā)射率表很多都是一個范圍，而不是一個確定的值，在這個范圍里，誰也弄不清到底具體發(fā)射率值是多少，所以你如何確切地設(shè)定發(fā)射率呢？又如何確保發(fā)射率沒有誤差呢？所以，發(fā)射率誤差1%~10%是應(yīng)用紅外測溫儀、紅外熱像儀中非常常見的、經(jīng)常發(fā)生的。原裝進(jìn)口紅外熱像儀